data-pixel DAISI-V3
Automatisiertes Interferometer zur hochpräzisen Messung und Inspektion von Glasfasersteckverbinder-Endflächen
Technische Highlights
- Digitales Interferometer mit integriertem 400-fach Mikroskop
- Echtes Phase-Shifting-Interferometer
- Messzeit von nur 1 Sekunde
User Highlights
- ✓ Schnelle Qualitätskontrolle in der Serienfertigung
- ✓ Hohe Flexibilität
- ✓ Einfache Integration in Produktionsumgebungen
Anwendungsgebiete:
- Endflächengeometrie von Glasfasersteckverbindern messen
- Oberflächeninspektion von Ferrulen
- Qualitätskontrolle in der Steckverbinderfertigung
- Produktionsprüfung von PC- und APC-Steckverbindern
- Forschung und Entwicklung optischer Steckverbinder
Das DAISI-V3 von Datapixel ist ein leistungsstarkes Inspektions- und Analysesystem für die präzise Bewertung von Glasfasersteckverbindern, Ferrulen und optischen Faserendflächen. Entwickelt für Hersteller optischer Komponenten, Forschungseinrichtungen, Netzbetreiber und Qualitätslabore, unterstützt das System die zuverlässige Identifikation von Verunreinigungen, Kratzern, Beschädigungen und weiteren Defekten, welche die Leistungsfähigkeit optischer Verbindungen beeinträchtigen können.
In modernen Glasfaser- und Photoniksystemen hat die Qualität der Steckverbinder einen direkten Einfluss auf Dämpfung, Reflexionen und die langfristige Betriebssicherheit. Bereits mikroskopisch kleine Verunreinigungen können zu Signalverlusten oder Netzwerkstörungen führen. Das DAISI-V3 wurde entwickelt, um solche Fehler frühzeitig zu erkennen und eine konsequente Qualitätskontrolle über den gesamten Produktlebenszyklus hinweg zu ermöglichen.
Ein wesentlicher Vorteil des DAISI-V3 liegt in der hochauflösenden Bildverarbeitung und der automatisierten Fehleranalyse. Das System untersucht die gesamte Faserendfläche und bewertet deren Zustand anhand definierter Qualitätskriterien. Dadurch werden subjektive Beurteilungen reduziert und eine hohe Reproduzierbarkeit der Messergebnisse gewährleistet. Dies vereinfacht die Qualitätskontrolle und erhöht die Zuverlässigkeit optischer Verbindungen.
Das DAISI-V3 eignet sich sowohl für die Fertigung optischer Komponenten als auch für Forschungs- und Entwicklungsprojekte. Hersteller profitieren von einer effizienten Endkontrolle ihrer Produkte, während Entwicklungsteams wertvolle Informationen zur Optimierung von Fertigungsprozessen und Steckverbinderdesigns erhalten. Gleichzeitig unterstützt das System die Einhaltung internationaler Qualitätsstandards im Bereich Glasfasertechnik.
Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle Durchführung von Inspektionen und eine übersichtliche Darstellung der Analyseergebnisse. Berichte können dokumentiert und archiviert werden, wodurch eine vollständige Nachverfolgbarkeit von Prüfprozessen gewährleistet wird. Dies macht das DAISI-V3 zu einem wertvollen Werkzeug für qualitätskritische Anwendungen.
Typische Anwendungsbereiche
• Steckverbinderinspektion
• Analyse von Faserendflächen
• Qualitätskontrolle in der Produktion
• Glasfasertechnik
• Photonik und Optoelektronik
• Forschung und Entwicklung
• Fehleranalyse optischer Komponenten
• Telekommunikations- und Rechenzentrumsinfrastrukturen
Das DAISI-V3 von Datapixel kombiniert hochauflösende Bildgebung, automatisierte Auswertung und professionelle Dokumentationsfunktionen in einer leistungsfähigen Inspektionsplattform. Unternehmen, Forschungseinrichtungen und Hersteller optischer Komponenten profitieren von einer zuverlässigen Lösung zur Sicherstellung höchster Qualitätsstandards. Damit ist das DAISI-V3 ein unverzichtbares Werkzeug für moderne Glasfaser-, Photonik- und Hochgeschwindigkeitsanwendungen.
Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.
| Spezifikation | Wert |
|---|---|
| Gerätetyp | Digitales Interferometer und Mikroskop zur Steckerendflächen-Inspektion |
| Messverfahren | Phasenverschiebungs-Interferometrie (True Phase Shifting Interferometer) |
| Vergrösserung | 400× |
| Sichtfeld | 0,7 × 0,5 mm |
| Radius-Messbereich | 3 mm bis plan |
| Apex-Offset-Messbereich | 0-500 µm |
| Faserhöhenmessung | ±160 nm |
| Faserwinkelmessung | 0-12° |
| Messgeschwindigkeit | 1 s |
| Schnittstelle | USB 2.0 |
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