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Optics & Photonics / Optical Spectrum / Yokogawa Optical Spectrum Analyzer (OSA)

Yokogawa AQ6361

Optischer Spektrumanalysator für schnelle NIR-Messungen

Der Yokogawa AQ6361 ermöglicht hochauflösende optische Spektrumanalysen im nahen Infrarotbereich. Das leistungsstarke Messsystem unterstützt Forschung, Entwicklung und Produktion bei der präzisen Charakterisierung moderner photonischer Komponenten und Lasersysteme. 
Technische Highlights
  • Breiter Messbereich von 350 bis 1200 nm
  • Hohe spektrale Auflösung bis 0,02 nm
  • Hohe Messempfindlichkeit bis -90 dBm
User Highlights
  • ✓ Vielseitige Analyse
  • ✓ Einfache Bedienung
  • ✓ Zuverlässige Messergebnisse
Anwendungsgebiete:
  • LED- und Lasercharakterisierung
  • Prüfung optischer Komponenten
  • Forschung und Entwicklung in der Photonik
  • Qualitätskontrolle optischer Baugruppen
  • Analyse von Lichtquellen und Sensorik
Yokogawa AQ6361

Der Yokogawa AQ6361 ist ein professioneller Optical Spectrum Analyzer für anspruchsvolle Anwendungen in Optik, Photonik, Telekommunikation und Lasertechnologie. Das System wurde entwickelt, um hochpräzise Spektralmessungen im nahen Infrarotbereich durchzuführen und die Charakterisierung moderner Lichtquellen sowie optischer Komponenten zu ermöglichen. Dank seiner hohen Auflösung und Messgenauigkeit eignet sich der Yokogawa AQ6361 für Forschungsinstitute, Entwicklungslabore und industrielle Produktionsumgebungen. 

Moderne photonische Technologien stellen hohe Anforderungen an die Analyse optischer Signale. Der Yokogawa AQ6361 unterstützt die detaillierte Untersuchung von Laserdioden, Faserlasern, optischen Verstärkern, Filtern, Sensoren und weiteren Komponenten. Selbst feine spektrale Strukturen und geringste Wellenlängenveränderungen können zuverlässig erkannt und ausgewertet werden. Dadurch erhalten Entwickler wertvolle Informationen für die Optimierung optischer Systeme und die Weiterentwicklung innovativer Technologien. 

Ein wesentlicher Vorteil des Yokogawa AQ6361 ist seine Kombination aus hoher spektraler Auflösung und grossem Dynamikbereich. Dadurch können sowohl starke als auch sehr schwache optische Signale präzise analysiert werden. Dies ist insbesondere bei Anwendungen in der Lasertechnik, Telekommunikation und Sensorentwicklung von entscheidender Bedeutung. Die hohe Empfindlichkeit unterstützt die zuverlässige Bewertung komplexer optischer Systeme und verbessert die Qualität von Forschungs- und Entwicklungsprojekten. 

Die moderne Benutzeroberfläche ermöglicht eine effiziente Durchführung von Messungen sowie eine komfortable Analyse der erfassten Daten. Messergebnisse werden übersichtlich dargestellt und können mit leistungsfähigen Auswertefunktionen weiterverarbeitet werden. Dies reduziert den Zeitaufwand bei Entwicklungsprojekten und unterstützt eine schnelle Identifikation möglicher Optimierungspotenziale. 

Der Yokogawa AQ6361 eignet sich sowohl für wissenschaftliche Forschungsanwendungen als auch für industrielle Qualitätskontrollen. Die hohe Reproduzierbarkeit der Messergebnisse unterstützt standardisierte Prüfverfahren und sorgt für eine zuverlässige Vergleichbarkeit von Messdaten. Dadurch profitieren Unternehmen und Forschungseinrichtungen gleichermassen von einer hohen Prozesssicherheit. 


Typische Anwendungsbereiche: 

• Optische Spektrumanalyse 

• Lasercharakterisierung 

• Forschung und Entwicklung 

• Photonik und Optoelektronik 

• Telekommunikationssysteme 

• Sensorentwicklung 

• Qualitätskontrolle optischer Komponenten 

• Wissenschaftliche Messtechnik 


Der Yokogawa AQ6361 kombiniert hohe Messgenauigkeit, exzellente spektrale Auflösung und moderne Analysefunktionen in einem professionellen Spektrumanalysator. Unternehmen, Forschungseinrichtungen und Entwicklungslabore profitieren von einer leistungsfähigen Lösung zur Untersuchung und Optimierung moderner optischer Technologien. Damit ist der Yokogawa AQ6361 eine ausgezeichnete Wahl für anspruchsvolle Anwendungen in der Optik und Photonik.

Technische Eigenschaften und Leistungsmerkmale dieses Produkts.

Spezifikation Wert
Gerätetyp Optischer Spektrumanalysator (OSA)
Wellenlängenbereich 1200-1700 nm (SW)/700-1700 nm (EW)
Wellenlängenauflösung 0,05-2 nm (Standard)/0,03-2 nm (High Performance)
Wellenlängengenauigkeit ±0,02 nm
Dynamikbereich bis 65 dB
Pegelbereich +20 bis -80 dBm
Empfindlichkeit bis -80 dBm
Streulichtunterdrückung bis 73 dB
Messgeschwindigkeit bis zu 20× schneller im RAPID-Modus
Unterstützte Fasertypen Singlemode/Multimode

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