Produktion
Inspektion - Full Endface
Endflächen-Analyse – genau um das gehts!
Diskussionen über «was ist gut – was ist nicht gut!» kennen wir. Fakt ist, dass Schmutz an Steckerendflächen einen beträchtlichen negativen Einfluss auf die Verbindungsqualität haben. Sind diese immer noch Hauptursache für problematische optische Links. Jahrelanges sammeln von Erkenntnissen bringen es auf den Punkt: die Qualität muss über die ganze Ferrulen/Steckerendfläche sichergestellt werden. Verunreinigungen ausserhalb der kritischen Zonen werden mit klassischen 200/400x Mikroskopen nicht gesehen. Allerdings kann genau dieser ungesehene Schmutz durch den Steckzyklus aufgewirbelt werden und in der kritischen Zone landen. Ganz speziell bei hochbitratigen Netzwerken mit u.a. MPO Steckern kann dies zum «Killer» werden.
Das High-End Scope EFI von DATA-PIXEL stellt sich vor:
- Vollansicht der gesamten Steckerendfläche in Echtzeit
- Vollautomatische Inspektion innert Sekunden
- Für Single (LC, E2000 etz.)- und Multifasestecker (MPO)
- Hochauflösende Optik
- Kompatibel mit der letzten IEC61300-3-35 ed.3
- Exzellente Deep Learning Software welche dank dem künstlichen Intelligenz Staub, Öl, Partikel, Kratzer etc. erkennt und differenziert
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