Optik & Photonik
Refractive Index Profiler
Der nPA-400 Refractive Index Profiler von Arden Photonics verwendet eine modifizierte Nahfeldtechnik zur Analyse der Faserendfläche, um das vollständige 2D-Profil des Brechungsindex zu bestimmen.
Vorteile
Mit dem nPA-400 erhalten Sie schnell und einfach das Profil des Brechungsindex (RIP), das Sie zur Überprüfung des Faserdesigns und der Fertigungsprozesse benötigen.
Es können sowohl Standard- als auch Spezialfasern mit einem Durchmesser von bis zu 400 µm analysiert werden. Das benutzerfreundliche GUI und die minimale Faserpräparation machen den nPA-400 zum perfekten Werkzeug für schnelle, wiederholbare RIP-Charakterisierungen Ihrer optischen Fasern.
Es ist nicht notwendig, die Faser zu drehen oder die Faserendfläche zu scannen, was zu einer sehr schnellen Messung führt und das Gerät für Produktionslinien, Forschungs- und Entwicklungslabore oder QS-Umgebungen qualifiziert.
Sie interessieren sich für dieses Produkt?
Wir beraten Sie gerne. Rufen Sie uns an oder senden Sie uns das Formular mit Ihrer Anfrage zu.
Allgemeine Anfrage